X射线漫散射线系统(物质区域中心)
2011-04-13 | 浏览次数: | 文章来源: | 【大 中 小】
| 设备名称 | X射线漫散射线系统(物质区域中心) |
| 设备型号 | 非标 |
| 启用日期 | 2001-02-08 00:00:00.0 |
| 仪器金额 | 1.0E7 |
| 接收时的状态及验收记录 | 完好，验收合格 |
| 所属研究组 | 漫散射实验站 |
| 仪器操作员 | 陈雨 |
| 仪器操作员电话 | 88235994.0 |
| 仪器操作员EMail | chen_yu@ihep.ac.cn |
| 仪器描述 | 单色光能量：8.05keV，13.9keV；能量分辨率4.4×10-4（@8.05keV）；聚焦光斑尺寸（mm）：0.7（水平）×0.4（竖直） |
| 仪器主要配件 | Huber 五圆衍射仪、 NaI（Tl）探测器、一维位置灵敏气体探测器、后分析晶体转台以及电场测量环境装置，电子学设备 |
| 仪器主要功能 | 可以对用户提供共面X射线散射(XRS)、X射线衍射(XRD)，X射线反射(XRR)，掠入射 X 射线衍射(GIXRD)，掠入射 X 射线小角散射(GISAXS) 等实验方法。 |
| 分析项目说明 | 漫散射站的主要研究对象是薄膜、表面／界面，液体、表面纳米结构（量子点、量子阱、纳米管、纳米棒等），结合 1W1A 光束线提供的双聚焦单色 X 射线和漫散射实验站的实验设备，可以对用户提供共面X射线散射(XRS)、X射线衍射(XRD)，X射线反射(XRR)，掠入射 X 射线衍射(GIXRD)，掠入射 X 射线小角散射(GISAXS) 等实验方法。在漫散射站上可以开展晶体结构的测量，晶体材料中缺陷的组态研究，固体（或软物质）薄膜、多层膜的表面／界面结构研究，表面纳米材料的结构研究，多层膜周期间的应变分布研究等方面的工作。在上述实验方法中，漫散射实验站主要侧重于开展掠入射条件下的实验，掠入射是一种对表面和表层结构十分敏感的实验技术，根据X射线外全反射的特点，利用掠入射技术可以探测分布在几纳米到几十纳米的表层深度范围内的低维微结构信息。 |
| 备注 | |
| 单时价格 | 0 |
| 共享状态 | 中心共享 |