小角X射线散射线系统(物质区域中心)
2011-04-13 | 浏览次数: | 文章来源: | 【大 中 小】
| 设备名称 | 小角X射线散射线系统(物质区域中心) |
| 设备型号 | 研制 |
| 启用日期 | 2008-08-31 00:00:00.0 |
| 仪器金额 | 1.2E7 |
| 接收时的状态及验收记录 | 完好，验收合格 |
| 所属研究组 | 衍射和小角散射站 |
| 仪器操作员 | 默广 |
| 仪器操作员电话 | 88235982-803 |
| 仪器操作员EMail | mog@ihep.ac.cn |
| 仪器描述 | 入射波长： 0.154nm 入射光强： ~2x10^{11}cps 全光斑大小： 0.3x1.6mm2 相机长度： 0.65m-5.5m可调 像素大小： 79微米 有效探测面积： Ф165mm，Ф200mm 可测波矢范围：0.15nm^{-1}~5.3 nm^{-1}, 或0.019 nm^{-1} ~ 0.61 nm^{-1}。 可测粒度范围： 1.2 nm~ 42nm |
| 仪器主要配件 | 小角相机; Mar165CCD 探测器; Vantec2000XL 探测器; 弧形气体线性探测器; 电子学设备 |
| 仪器主要功能 | 对不同形态（液态、固态、结晶、非晶）的具有纳米尺度（几个纳米至两百纳米左右）电子密度涨落材料的纳米尺度结构（大小、分布、形状、界面形态等）的表征。 |
| 分析项目说明 | 样品要求： 溶液、 纳米材料、 聚合物、 生物大分子、非晶材料， 薄膜材料 等等。要求样品厚度在0.154nm处约一个吸收厚度。 |
| 备注 | 也可开展:掠入射SAXS等研究 |
| 单时价格 | 0 |
| 共享状态 | 中心共享 |