常规正电子湮没寿命谱仪（物质区域中心）
2011-04-13 | 浏览次数: | 文章来源: | 【大 中 小】
| 设备名称 | 常规正电子湮没寿命谱仪（物质区域中心） |
| 设备型号 | 非标 |
| 启用日期 | 2004-03-01 00:00:00.0 |
| 仪器金额 | 500000.0 |
| 接收时的状态及验收记录 | 完好，验收合格 |
| 所属研究组 | 正电子组 |
| 仪器操作员 | 李卓昕 |
| 仪器操作员电话 | 88235971.0 |
| 仪器操作员EMail | qinxb@ihep.ac.cn |
| 仪器描述 | 常规正电子湮没寿命谱仪，使用22Na放射源产生正电子，可以用于块体材料（厚度受样品密度的影响，一般在1mm左右）中空位型缺陷或介孔和微孔材料中孔特性的分析。 |
| 仪器主要配件 | BaF2闪烁体探测器两台、22Na放射源系统一套、采谱及数据分析系统一套（含计算机、采谱电子学系统） |
| 仪器主要功能 | 主要用于薄膜材料中空位型缺陷的表征，包括空位类型、空位浓度、缺陷尺寸等参数的分析 |
| 分析项目说明 | 空位型缺陷的理想无损探测分析方法 |
| 备注 | |
| 单时价格 | 0 |
| 共享状态 | 中心共享 |