【线站综述 Overview】

X射线吸收谱学线站（ID46）是一条通用、高性能硬X射线吸收谱学光束线站，用于分析物质的局域原子结构和电子结构信息。本光束线站主要用于高能量分辨、高光谱纯度和高信噪比的 X 射线吸收精细结构（XAFS）谱学研究。该技术能够在固态、液态等多种条件下研究原子（或离子）的近邻结构和电子结构，且具有元素选择性，与其它 X 射线分析技术相比有其独特的优势。常规的透射和荧光 XAFS 实验方法，为最广泛的用户群提供可靠、稳定和操作简便的实验平台；QXAFS、HERFD-XAS实验方法，以满足用户日益提高的高时间分辨和空间分辨谱学需求。束线可支持用户在能源、材料、环境、物理等多个研究领域开展前沿的科学研究工作。

【主要参数 Specifications】

【实验模式 Experiment Mode】

具有 3 种主要的运行模式：

（a）常规亚微米聚焦模式：该模式主要优化方向是光斑尺寸达到亚微米量级；

（b）快扫亚微米聚焦模式：该模式主要优化方向是兼顾时间分辨和亚微米光斑；

（c）大光斑模式：该模式为 mm 级光斑的常规 XAFS 模式

【线站设备 Equipment Availability】

- 探测器Detectors：Lytle电离室、SDD探测器、高纯锗探测器

 【数据收集与处理 Data Acquisition】

1. 透射模式XAFS方法

透射模式XAFS通常选用气体电离室作为探测器，用光强响应函数相同的两个电离室分别探测入射光强和透射光强，入射光强的时间波动便很容易消除。

2. 荧光模式XAFS方法

对于低浓度样品（0.1~5wt%），一般采取Lytle型气体电离室进行荧光模式XAFS测量，并结合相应的荧光滤波片抑制散射背底信号。

对于更低浓度的样品（0.1wt%至ppm量级），一般采用高灵敏的固体探测器进行荧光XAFS探测。

含Cu水溶液中Cu浓度＜2ppm时的XANES

3. 时间分辨QXAFS方法

线站配备了QXAFS快速测量系统，该系统采用channel-cut型单色器。

单谱时长20ms下快扫谱和标准谱的对比