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低维结构探针线站
文章来源:   |  发布时间:2019-03-28  |  【打印】 【关闭】  |  浏览:
 

低维结构探针线站】  

低维结构探针(Low-Dimension Structure Probe)线站是一条插入件线站,以表面X射线散射为核心方法,分析低维材料与器件的结构及其动态变化。它采用IVU插入件作为光源,采用一条光束线串联两个实验站的设计,前实验站(EH1)开展多环境下的X射线散射实验,核心设备是一台6+3圆衍射仪,配备多种小型样品环境,提供共振和非共振的表面衍射、反射、CTR分析、倒易空间绘制(RSM)、表面PDF、掠入射XPCS等X射线散射方法,后实验站(EH2)开展超高真空下的表面散射原位结构分析实验,核心是一套“SXRS+HMBE+RHEED+GIXPCS+XRR”原位结构探针集成装置,其中的混合MBE腔可从衍射仪上推走,换成用户自己的原位样品制备腔体。  

 

负责人:王焕华(010-88235994 wanghh@ihep.ac.cn  

 

 

 

 

 

 
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