一种二次电子发射性能参数测试装置及测试方法
- 英文名称：A secondary electron emission performance parameter test device and test method
- 专利号：ZL 202010013951.8
- 专利类别：发明授权
- 专利证书号：
- 申请号：CN202010013951.8
- 发明人：闫保军; 刘术林; 温凯乐; 王玉漫; 张斌婷; 谷建雨
- 其它发明人：
- 申请日期：2020-01-07
- 授权日期：2025-03-11
