一种基于连续双缝扫描的束流发射度测量仪及测量方法
- 英文名称：A beam emittance measuring instrument and measuring method based on continuous double-slit scanning
- 专利号：ZL 202311509940.9
- 专利类别：发明授权
- 专利证书号：
- 申请号：CN202311509940.9
- 发明人：杨仁俊; 陈伟文; 刘仁洪; 姜世民
- 其它发明人：
- 申请日期：2023-11-13
- 授权日期：2024-09-24
