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一种光栅周期失配设计的光栅干涉波前检测方法及装置

  • 英文名称:A grating interference wavefront detection method and device based on grating period mismatch design
  • 专利号:ZL 202310514944.X
  • 专利类别:发明授权
  • 专利证书号:
  • 申请号:CN202310514944.X
  • 发明人:刘方; 李明
  • 其它发明人:
  • 申请日期:2023-05-09
  • 授权日期:2024-09-03
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