一种强电离辐射环境下的温度测量方法及系统
- 英文名称：The invention relates to a temperature measuring method and system under strong ionizing radiation environment
- 专利号：ZL 201810442429.4
- 专利类别：发明授权
- 专利证书号：
- 申请号：CN201810442429.4
- 发明人：杨俊亮; 张小威; 赵越; 朱晔; 李瑭
- 其它发明人：
- 申请日期：2018-05-10
- 授权日期：2024-02-13
