高、低温环境中材料二次电子特性参数的测量装置和方法
- 英文名称：Device and method for measuring characteristic parameters of secondary electrons of materials in high-temperature and low-temperature environments
- 专利号：ZL 201811197282.3
- 专利类别：发明授权
- 专利证书号：
- 申请号：CN201811197282.3
- 发明人：王鹏程; 刘瑜冬; 刘盛画; 孙晓阳
- 其它发明人：
- 申请日期：2018-10-15
- 授权日期：2023-10-27
