专利
您当前的位置:首页 > 科研成果 > 专利
一种微区XRF元素分析与多维成像方法及系统

  • 英文名称:A micro-XRF elemental analysis and multidimensional imaging method and system
  • 专利号:ZL 202211266940.6
  • 专利类别:发明授权
  • 专利证书号:
  • 申请号:CN202211266940.6
  • 发明人:许琼; 魏存峰; 舒岩峰; 刘跃东; 王逸凡
  • 其它发明人:
  • 申请日期:2022-10-17
  • 授权日期:2023-05-12
地址:北京市918信箱 邮编:100049 电话:86-10-88235008 Email:ihep@ihep.ac.cn
中国科学院高能物理研究所 备案序号:京ICP备05002790号-1 文保网安备案号: 110402500050