一种原位X-射线吸收谱测量系统及测量方法
- 英文名称：In-situ X-ray absorption spectrum measurement system and measurement method
- 专利号：ZL 202110515631.7
- 专利类别：发明授权
- 专利证书号：
- 申请号：CN202110515631.7
- 发明人：张静; 刘聚哲; 章红宇; 殷子; 储胜启; 安鹏飞; 黄换; 郭林
- 其它发明人：
- 申请日期：2021-05-12
- 授权日期：2022-11-01
