一种测量介质材料二次电子发射系数的方法
- 英文名称：Method for measuring secondary electron emission coefficient of dielectric material
- 专利号：ZL 201910405418.3
- 专利类别：发明授权
- 专利证书号：
- 申请号：CN201910405418.3
- 发明人：温凯乐; 刘术林; 闫保军; 王玉漫
- 其它发明人：
- 申请日期：2019-05-16
- 授权日期：2020-10-09
