一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法
- 英文名称：X-ray differential phase contrast microscope system and two-dimensional imaging method thereof
- 专利号：ZL 201610617865.1
- 专利类别：发明授权
- 专利证书号：
- 申请号：CN201610617865.1
- 发明人：朱佩平; 张凯; 袁清习; 黄万霞; 朱中柱
- 其它发明人：
- 申请日期：2016-07-29
- 授权日期：2019-08-13
