正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法及其系统
- 英文名称：Positron emission tomography scanner depth effect correction method and system thereof
- 专利号：ZL 201510956769.5
- 专利类别：发明授权
- 专利证书号：
- 申请号：CN201510956769.5
- 发明人：孙校丽; 单保慈; 刘双全; 葛红红; 贠明凯; 高娟; 李默涵; 柴培; 章志明; 魏龙; 王骏飞; 韩强强; 刘志蓉
- 其它发明人：
- 申请日期：2015-12-19
- 授权日期：2018-09-28
