一种同时测量光在探测器里反射步长和Tyvek反射率的方法
- 英文名称：Method for simultaneously measuring light at the detector in the reflectivity of the reflection step size and Tyvek method
- 专利号：ZL 201710398214.2
- 专利类别：发明授权
- 专利证书号：
- 申请号：CN201710398214.2
- 发明人：李秀荣; 肖刚; 左雄; 冯少辉; 李骢; 王玲玉; 程宁
- 其它发明人：
- 申请日期：2017-05-31
- 授权日期：2018-08-21
