一种获得高品质薄膜样品X射线吸收谱的方法
- 英文名称：Method for obtaining high-quality X-ray absorption spectrum of thin film sample
- 专利号：ZL 201210591180.6
- 专利类别：发明授权
- 专利证书号：
- 申请号：CN201210591180.6
- 发明人：张静; 陈栋梁; 安鹏飞; 宋冬燕; 谢亚宁; 胡天斗
- 其它发明人：
- 申请日期：2012-12-28
- 授权日期：2015-02-25
