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简 介
研究领域及主要成果： 新型硅像素探测器在高能物理实验及同步辐射实验中的应用：SOI技术用于带电粒子和X射线探测，CPS则主要用于带电粒子探测。 基于专用集成电路芯片的前端电子学研制：天宫二号伽玛暴偏振仪的前端电子学预研；中国散裂中子源高通量粉末衍射仪前置放大器研制。 BESIII触发系统的研制：多通道对齐的高速串行传输技术的研究。 近期代表性文章和会议报告： [1] Y. Zhou, Y. Lu*, et al., Synchrotron beam test of a photon counting pixel prototype based on Double-SOI technology, Journal of Instrumentation, Volume 12, January 2017 [2] Yunpeng Lu*, et al., First results of a Double-SOI pixel chip for X-ray imaging,, NIMA 831(2016) 44-48 [3] Yunpeng Lu*, et al., A study on the shielding mechanisms of SOI pixel detector, econf, arXiv:1507.05394 [4] Yi Liu, Yunpeng Lu*, et al. , Laser test on a fine pitch SOI pixel detector, Chinese Physics C, Vol. 40, No.1 (2016) [5] Yunpeng Lu on behalf of Vertex detector sub-group, Status of silicon, CEPC-SPPC研讨会，北京，2016年4月 [6]辛虹阳，卢云鹏*等，SOI像素探测器的COB组装工艺初步研究，核电子学与探测技术，2015, Vol.35(06), pp. 607-611 [7] Yunpeng Lu, R&D on SOI counting pixel chips, KEK seminar, Jan. 2015 |
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