一种测量光在探测器里平均反射步长的方法
- 英文名称：Method for measuring average reflection step size of light in detector
- 专利号：ZL 201710397900.8
- 专利类别：发明授权
- 专利证书号：
- 申请号：CN201710397900.8
- 发明人：李秀荣; 肖刚; 左雄; 冯少辉; 李骢; 王玲玉; 程宁
- 其它发明人：
- 申请日期：2017-05-31
- 授权日期：2019-07-23
