高、低温环境中材料二次电子特性参数的测量装置
- 英文名称：High, low temperature environment of the materials in the secondary electronic characteristic parameter measuring device
- 专利号：ZL 201821672485.9
- 专利类别：实用新型
- 专利证书号：
- 申请号：CN201821672485.9
- 发明人：王鹏程; 刘瑜冬; 刘盛画; 孙晓阳
- 其它发明人：
- 申请日期：2018-10-15
- 授权日期：2019-06-18
