用于正电子湮没寿命谱测量的方法、系统以及闪烁探测器
- 英文名称：For the positive electronic difference along the method, system and scintillation detector
- 专利号：ZL 201610847307.4
- 专利类别：发明授权
- 专利证书号：
- 申请号：CN201610847307.4
- 发明人：王宝义; 况鹏; 王英杰; 章志明; 姜小盼; 曹兴忠; 魏龙
- 其它发明人：
- 申请日期：2016-09-23
- 授权日期：2019-03-15
