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深空探测X射线谱仪定标设备

  • 英文名称:
  • 专利号:ZL 200820080543.9
  • 专利类别:外观设计
  • 专利证书号:
  • 申请号:200820080543.9
  • 发明人:高旻、汪锦州、王焕玉、张承模、崔兴柱、彭文溪、曹学蕾、张家宇、杨家卫、梁晓华
  • 其它发明人:
  • 申请日期:2008-05-14
  • 授权日期:2008-05-14
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