Band alignment of atomic layer deposited MgO/Zn0.8Al0.2O heterointerface determined by charge corrected X-ray photoelectron spectroscopy
- 联系作者：
- 刊物名称：APPLIED SURFACE SCIENCE
- 所属学科：
- 作者：Yan, BJ; Liu, SL; Yang, YZ et al.
- 发表年度：2016
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