Band Offset Measurements in Atomic-Layer-Deposited Al2O3/Zn0.8Al0.2O Heterojunction Studied by X-ray Photoelectron Spectroscopy
- 联系作者：
- 刊物名称：NANOSCALE RESEARCH LETTERS
- 所属学科：
- 作者：Yan, BJ; Liu, SL; Heng, YK et al.
- 发表年度：2017
- 卷：
- 期：
- 页：
- 论文类别：
- 影响因子：
- 参与作者：
- DOI：
