High-resolution extraction of absorption, refraction and scattering properties using x-ray scanning absorption grid imaging
- 联系作者：
- 刊物名称：MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY
- 所属学科：
- 作者：Zhou, CP; Wang, Y; Wang, SF et al.
- 发表年度：2025
- 卷：
- 期：
- 页：
- 论文类别：
- 影响因子：
- 参与作者：
- DOI：
