The resolution functions of the time-of-flight pinhole SANS and multi-slit VSANS: a comparison between experiment and Mcstas simulation
- 联系作者：
- 刊物名称：NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS
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- 作者：Zhu, H; Cheng, H; Ma, CL et al.
- 发表年度：2025
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