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一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置
  • 英文名称：
  • 专利号：ZL201210076870.8
  • 专利类别：发明授权
  • 专利证书号：
  • 申请号：CN201210076870.8
  • 发明人：秦秀波; 赵博震; 朱美玲; 袁路路; 赵维; 舒航; 曹大泉; 孙翠丽; 魏存峰; 魏龙
  • 其它发明人：
  • 申请日期：2012-03-21 00:00:00
  • 授权日期：2014-04-16 00:00:00
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