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二维正电子湮没寿命谱测量方法及系统
  • 英文名称：
  • 专利号：ZL202210508470.3
  • 专利类别：发明授权
  • 专利证书号：
  • 申请号：CN202210508470.3
  • 发明人：张红强; 刘福雁; 况鹏; 曹兴忠; 王宝义; 于啸天; 卞忠伟; 王英杰; 章志明; 魏龙
  • 其它发明人：
  • 申请日期：2022-05-10 00:00:00
  • 授权日期：2025-10-03 00:00:00
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