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基于KB镜纳米实验系统的高精度定位测量方法及装置
  • 英文名称：
  • 专利号：ZL202310055359.8
  • 专利类别：发明授权
  • 专利证书号：
  • 申请号：CN202310055359.8
  • 发明人：于海涵; 汤善治; 何天; 廖瑞颖; 欧自娜; 周亮; 李明
  • 其它发明人：
  • 申请日期：2023-01-16 00:00:00
  • 授权日期：2025-09-26 00:00:00
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