专利
您当前的位置:首页 > 科研成果 > 专利
相位衬度显微镜、相移定量成像方法、系统及存储介质

  • 英文名称:
  • 专利号:ZL202110496934.9
  • 专利类别:发明授权
  • 专利证书号:
  • 申请号:CN202110496934.9
  • 发明人:朱佩平; 何其利; 王研; 张凯; 朱中柱; 袁清习; 黄万霞
  • 其它发明人:
  • 申请日期:2021-05-07 00:00:00
  • 授权日期:2025-05-27 00:00:00
地址:北京市918信箱 邮编:100049 电话:86-10-88235008 Email:ihep@ihep.ac.cn
中国科学院高能物理研究所 备案序号:京ICP备05002790号-1 文保网安备案号: 110402500050