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一种二次电子发射性能参数测试装置
  • 英文名称：
  • 专利号：ZL202020028723.3
  • 专利类别：实用新型
  • 专利证书号：
  • 申请号：CN202020028723.3
  • 发明人：闫保军; 刘术林; 温凯乐; 王玉漫; 张斌婷; 谷建雨
  • 其它发明人：
  • 申请日期：2020-01-07 00:00:00
  • 授权日期：2020-09-15 00:00:00
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