科研成果

专利
您当前的位置：首页 > 科研成果 > 专利
高、低温环境中材料二次电子特性参数的测量装置
  • 英文名称：
  • 专利号：ZL201821672485.9
  • 专利类别：实用新型
  • 专利证书号：
  • 申请号：CN201821672485.9
  • 发明人：王鹏程; 刘瑜冬; 刘盛画; 孙晓阳
  • 其它发明人：
  • 申请日期：2018-10-15 00:00:00
  • 授权日期：2019-06-18 00:00:00
专利列表返回首页
地址：北京市918信箱 邮编：100049 电话：86-10-88235008 Email：ihep@ihep.ac.cn
中国科学院高能物理研究所 备案序号：京ICP备05002790号-1 文保网安备案号： 110402500050
违法违纪举报