专利
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专利名称 专利号 授权日期 发明人
一种电磁粒子探测器读出电子学板批量测试方法 ZL202110250426.2 2023-10-17 00:00:00 张庚; 常劲帆
光电倍增管表面反射率无损定量检测装置及检测系统 ZL202320222473.0 2023-10-20 00:00:00 杨晓宇; 衡月昆; 曹国富; 温良剑
FXT聚焦相机整体集成装配方法 ZL202210106318.2 2023-10-20 00:00:00 王娟; 鲁兵; 杨雄涛; 吕赫; 李东泰; 陈勇
一种中子散射实验用超导磁体结构 ZL202111516324.7 2023-10-20 00:00:00 罗万居; 林权; 胡海韬; 袁宝; 白波; 黄志强; 程辉; 童欣
用于高能X射线吸收谱的多晶金刚石探测器及探测方法 ZL202110142530.X 2023-10-20 00:00:00 姚磊; 吴忠华; 默广; 邢雪青; 陈忠军; 王炳杰; 刘云鹏; 郑黎荣; 施展
用于BNCT紧凑型射频功率源系统的固态放大器 ZL202320730482.0 2023-10-27 00:00:00 荣林艳; 慕振成; 傅世年; 欧阳华甫; 王博; 万马良; 谢哲新; 张辉; 王禾欣
一种用于中子散射的样品测量定位系统 ZL202321004243.3 2023-10-27 00:00:00 陈洁; 谭志坚; 王声翔; 余朝举; 郑海彪; 杨陆峰
一种超导腔等离子体清洗的电路结构 ZL202320077498.6 2023-10-27 00:00:00 张聪; 王云; 刘华昌; 吴小磊; 陈强; 李阿红; 瞿培华; 李波; 樊梦旭; 周文中; 杨钥; 孔启宇
一种中子吸收涂层的大面积制备方法 ZL202310065468.8 2023-10-27 00:00:00 王平; 蔡伟亮; 张清
高、低温环境中材料二次电子特性参数的测量装置和方法 ZL201811197282.3 2023-10-27 00:00:00 王鹏程; 刘瑜冬; 刘盛画; 孙晓阳
一种含透明电极的碳化硅探测器芯片 ZL202321532979.8 2023-11-03 00:00:00 王聪聪; 史欣
一种X射线多元固体探测器准直和减小空气吸收的装置 ZL202321006565.1 2023-11-03 00:00:00 靳硕学; 解宏鑫; 陈栋梁
一种波长位移光纤组件测试系统 ZL202321408435.0 2023-11-03 00:00:00 崔兴柱; 郭森; 段文杰; 鲁兵; 刘鑫; 董永伟
一种局部实心化的玻璃微通道板制作方法 ZL202210518494.7 2023-11-07 00:00:00 雒涛; 王健; 徐玉朋; 张振; 何会林; 黎龙辉; 孙亮; 张爱梅; 杨生; 李茂顺
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