一、概述
4W1A-X射线成像实验站主要进行晶体形貌学和X射线高分辨成像实验研究，为用户提供实验所需要的同步辐射“白光”和单色X射线、旋转样品台、以及相应的探测仪器。实验站所用光源是4W1单周期扭摆磁铁，实验站与光源的距离是43米，通过4W1A光束线将同步辐射X射线从光源引入实验站。因为4W1A光束线是北京同步辐射装置最长的一条光束线，所以束线末端的X射线成像实验站可以提供准直性良好的X射线光束，为高分辨成像和相位衬度成像研究准备了较好的实验条件。除白光形貌实验和微米分辨成像实验外，实验站还建成了X射线纳米分辨三维成像显微镜，利用标准样品，纳米成像设备可获得的空间分辨率最高可达30纳米（实际样品可获得的空间分辨率随样品特性而异），可为生命科学、能源科学、材料科学、微电子产业、微加工技术和纳米科技等众多学科领域提供先进的研究手段。
二、光源
4W1A光束线的光源是单周期扭摆磁铁（wiggler），光源磁铁磁场强度是1.8T，因为该光源磁铁是电子储存环第4弧区的第一块wiggler扭摆磁铁，所以简称为4W1扭摆器。电子束团经过磁场时，受到洛仑兹力作用产生圆周加速运动，从电子轨道的切线方向发射同步辐射X射线。在同步辐射专用运行模式下（2.5GeV@250mA）4W1的光源参数（按耦合系数10%计算）为：
水平方向束团尺寸：sx = 1.23 mm
垂直方向束团尺寸：sy = 0.42 mm
水平方向角散度：sx￠ = 0.190 mrad
垂直方向角散度：sy￠ = 0.131 mrad
4W1光源理论计算的光谱曲线如图1所示（43m@25mm×15mm pinhole）。
图1为理论计算的4W1光谱曲线（42m@45mm×15mm pinhole）。
图1. 4W1A光源的理论光谱曲线和经铍窗、铝窗吸收后的光谱曲线
三、光束线
4W1扭摆器同时为X射线成像实验站和荧光实验站提供同步辐射X射线，因而从4W1扭摆器引出两条光束线，4W1A光束线为成像站输送同步辐射X射线，4W1B光束线为荧光站输送同步辐射X射线。因为电子储存环中具有极高的真空度，所以光束线由真空管道连接而成，通过铍窗和离子泵在管道中形成逐级差分真空，在保持电子储存环高真空的条件下，将同步辐射X射线从电子储存环引入相应的实验站。4W1A光束线设有4个200微米厚度的铍窗和出口处一个10微米厚度的铝窗，经过铍窗、铝窗的吸收衰减后，到达实验站的光子通量约为：7.5×1012 Phs/sec/0.1%BW（E=8keV，2.5GeV@250mA，25mm×15mm pinhole）。
4W1A光束线目前主要有三种实验模式：
1.纳米成像实验模式
纳米成像模式时光束线光学布置示意图如图2所示，光束线接收的同步辐射X射线依次经过准直镜（平面压弯镜）、双晶单色器和聚焦镜（柱面压弯镜）后汇聚到实验站精密四刀狭缝处，为后续的波带片全场成像设备提供照明X射线。
图2. 4W1A光束线纳米成像光路示意图
2.白光实验模式
通过向下移动准直镜和单色器第二晶体、向上移动聚焦镜，可以将准直镜、单色器第二晶体和聚焦镜移出光路，从而将光束线接收的宽谱X射线（白光）直接引入到实验站。在白光模式下，可以开展晶体白光形貌术、辐照测试实验及其它相关实验研究。
3.微米分辨成像实验模式
在白光实验模式下，通过实验站的双晶单色器，将束线出口的白光X射线单色化，选取特定能量的单色X射线照射在样品上，经过样品吸收后，在探测器上获得样品内部微观结构的二维投影像。由于4W1光源的高亮度、高准直性、发光点尺寸小以及超长的物源距离等优点，因此能获得高分辨率的图像，比如采用10X镜头的探测器，可获得约1mm的空间分辨率。
在微米分辨成像实验模式下，实验站还可开展相位衬度成像方法，包括衍射增强成像和同轴相位衬度成像。
四、 实验站
用户可以在实验站开展白光形貌术实验，微米分辨成像实验和纳米分辨全场成像实验以及相应的CT实验。实验站拥有以下设备：
1.白光形貌术实验设备
白光形貌实验装置；暗室；X射线专用胶片；显影定影液等。
2.X射线微米分辨成像及CT实验装置
微米分辨成像及CT实验装置由双晶单色器、五维样品平移旋转台和X射线高分辨探测器构成，如3图所示。通过双晶单色器，将束线出口的白光X射线单色化，选取特定能量的单色X射线照射在样品上，经过样品吸收后，在探测器上获得样品内部微观结构的二维投影像。利用三维图像采集软件，X射线探测器配合样品旋转台自动拍摄样品在不同角度下的二维投影像，通过重建软件，可以实现微米分辨三维成像。
实验站常用探测器为一套可切换放大倍数的镜头耦合成像探测器，通过选择不同放大倍数的物镜，可以获得相应的成像视场和分辨率进行成像，微米分辨成像的具体成像参数见表1所示。