XAFS站概况
一、简介
X射线吸收精细结构谱(X-ray Absorption Fine Structure)是近四十多年来迅速发展起来的一个非常活跃的学科领域。它是研究、近邻原子作用的一种重要手段，是进行定量结构分析的有效方法。BSRF－XAFS实验系统始建成于1990年，束线为4W1B，是由单周期WIGGLER 4W1引出的一条非聚焦单色光束线，主要光学元件是双晶单色器。长期以来是国内唯一的一条XAFS专用光束线。2003年完成了系统更新改造。新XAFS专用束线1W1B由储存环中7周期WIGGLER 1W1引出，为聚焦单色光束线。该束线光强比4W1B提高了一个量级以上，2008年实验站建立了19元半导体阵列探测器，大大提高了痕量元素的测试能力。该束线一直稳定运行至今，2014年实现在专用和兼用两种模式下运行开放。有效机时利用率达到98％以上，每年完成的用户课题数为BSRF接受的总课题数的20％－30％，每年相关工作发表文章约为几百篇。
